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Presse - diplan - Komponentenmanagement, Traceability, Logistik, Maschinenperformance, Optimierung

Fachseminar zum Lebenszyklusmanagement von Produktionsanlagen, FAPS,  Uni Erlangen

 

Am 30. März 2011 fand das Fachseminar zum Lebenszyklusmanagement von Produktionsanlagen mit dem Thema „Engineering wandlungsfähiger Produktionsanlagen“ am Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik (FAPS) der Uni Erlangen-Nürnberg statt. Schwerpunkte hierbei waren die Optimierung von Planung und Inbetriebnahme, Lösungen für eine ressourceneffiziente Produktion sowie die Erzielung einer hohen Anlagenverfügbarkeit.

 

Eine Zusammenfassung des Beitrags von diplan Geschäftsführer Dr.-Ing. Friedrich W. Nolting mit dem Titel „Erfassung und Beurteilung wichtiger Kennwerte (KPI) in der modernen Elektronikfertigung“ ist im Folgenden zu lesen.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Zusammenfassung

 

Der Lebenszyklus wandlungsfähiger Produktionsanlagen erstreckt sich ausgehend von der Investitionsentscheidung über die Phasenplanung, Inbetriebnahme, Betrieb und Optimierung bis hin zum Retrofit oder der Demontage.

 

In allen Stufen spielen Kennzahlen eine wichtige Rolle, um alternative Lösungen zu bewerten. Um auch komplexere und kapitalintensivere Anlagen technisch und wirtschaftlich optimal gestalten zu können, ist eine durchgängige Softwareunterstützung gerade bei der Kennzahlenermittlung erforderlich.

 

Die Kennzahlen werden zunächst für die Bereiche „Prozessnah“ und „Unternehmensweit“ dargestellt und erläutert. Beginnend mit den Prozesskennwerten werden existierende Lösungen für den Bestückprozess vorgestellt. Der technische Wandel in den Messmethoden erfordert auch die dynamische Anpassung der Qualitätskennwerte. Diese These wird durch die Vorstellung einer neuen Lösung aus dem Schablonendruckprozess untermauert. Enormes Potenzial, welches sich durch die Bereitstellung der Inspektionsergebnisse ergibt, wird damit genutzt.

30.03.2011

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Dr.-Ing. Friedrich W. Nolting präsentiert die „Erfassung und Beurteilung wichtiger Kennwerte (KPI) in der modernen Elektronikfertigung“